JAICI からのお知らせ

2007 年 9 月 3 日 (月) STN 関連結晶構造 DB・化合物辞典
2007 特許・情報フェア&コンファレンスに出展します
11 月に 「2007 特許・情報フェア&コンファレンス」 が開催されます.これは国内最大の知的財産関連の見本市です.特許情報の提供サービス会社,特許情報の解析ソフト会社,代行調査サービス会社,関連機器・システム・ソフトウエアの提供会社など多くの会社からの出展が予定されています.

弊協会もブースを設け,「STN」「STN Viewer」および「STN AnaVist」 の展示とデモンストレーションを予定しております.ご興味のある方はブース 38 (4 ホール) にお立ち寄りください.
  • STN」 は科学技術分野の検索システムで WPI,INPADOCDB,CAplus などの特許データベースがご利用いただけます.

  • 今年の7月にリリースされた「STN Viewer」は特許を様々な観点から評価できるツールです.STN の検索で得られた回答を用いて,特許全文を迅速に評価することができます.また,複数のメンバーで回答を共有することができますので,業務の効率化に役立ちます.

  • STN AnaVist」 は企業戦略や研究支援に大変有効なツールです.STN の検索結果を分析するだけでなく,研究におけるパターンと流れをビジュアル化することができますので,効率的で素早い情報収集・研究動向調査が可能となります.
また,11 月 8 日 (木) には 「STN でダイナミックに行う特許情報の解析と評価」 と題した企業プレゼンテーションを開催いたします.皆様のご参加をお待ちしております.

■ 会期 2007 年 11 月 7 日(水)〜 9 日(金) 10:00 - 17:00
■ 会場 科学技術館 (東京・北の丸)
■ 交通 こちらをご覧ください.
■ ブース番号 38 (4 ホール)
■ 展示内容 STN
STN Viewer
STN AnaVist
その他の化学データベース
■ 企業プレゼンテーション 11 月 8 日 (木) 1 階特設会場 11:15-12:00
「STN でダイナミックに行う特許情報の解析と評価」

STNで検索した世界中の特許情報を,解析ツールの STN AnaVist で競合分析したり,評価支援ツールの STN Viewer で効率的に評価し関係者間で情報共有する方法をご紹介します.
■ 入場料 1,000 円(税込み)

来場登録証 (招待券) が PDF ファイルで配布されています.プリントしてからご記入の上,当日ご持参ください.

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